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超聲波膜厚計

超聲波膜厚計

簡要描述:LU-200J超聲波膜厚計

產品型號: LU-200J超聲波膜厚計

所屬分類:膜厚計

更新時間:2024-08-14

詳細說明:

測定方法
超聲波反射式
測定對象
樹脂、玻璃、金屬等基體上的涂鍍層
測定范圍
10~700um
測定精度
<50um±2um    >50um±4%
分辨率
1um
統計功能
測試數/標準偏差
zui大值/zui小值/平均值

信號輸出

RS232標準接口

顯示方式

LCD數顯

操作面板

密封防水按鍵

附屬品

鐵基體/校正標準片/測頭/電池曲面支架/皮套/說明書

電源

5#堿性電池×6個

體積

本機120(W)×250(D)×55(H)
測頭¢63×85(H)

重量

本機800g 測頭220g


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