超聲波膜厚計
簡要描述:LU-200J超聲波膜厚計
產品型號: LU-200J超聲波膜厚計
所屬分類:膜厚計
更新時間:2024-08-14
詳細說明:
測定方法 | 超聲波反射式 | 測定對象 | 樹脂、玻璃、金屬等基體上的涂鍍層 | 測定范圍 | 10~700um | 測定精度 | <50um±2um >50um±4% | 分辨率 | 1um | 統計功能 | 測試數/標準偏差 zui大值/zui小值/平均值 | |
信號輸出 | RS232標準接口 | 顯示方式 | LCD數顯 | 操作面板 | 密封防水按鍵 | 附屬品 | 鐵基體/校正標準片/測頭/電池曲面支架/皮套/說明書 | 電源 | 5#堿性電池×6個 | 體積 | 本機120(W)×250(D)×55(H) 測頭¢63×85(H) | 重量 | 本機800g 測頭220g | |